ISO



Transmission- and line Testers
Nachrichten- und Übertragungsmesstechnik

Tektronix
CTS750 Opt. 30



Das Tektronix CTS 750 SDH/ PHD Test Set liefert alle notwendigen Mittel für Prüfung und Reparatur von Netzwerkkomponenten (ADM, Multiplexern, Terminals usw.) gemäß den ITU-T und ANSI Standards.

  • Sende- und Empfangsraten:
    - Elektrisch: STM-0E, STM-1E
    - Optisch: STM-0, STM-1, STM-4
    - Gemäß ITU-T G.707, G.708, G.709

  • Generierung und Analyse:
    - Tests von Bit Error Rates inkl. B1, B2, B3, TU BIP, MS FEBE, Path FEBE und Payload
    - Komplette Alarmüberprüfung und -generierung
    - Messungen: 1 sec bis 99 Tage
    - Histogramme: 72 h mit 1 min Auflösung - 45 Tage mit 15 min Auflösung
    - Messungen mit ITU-T Analyse gemäß G.826, G.821, M.2100

  • Overhead Management:
    - Setzen und Darstellen von Byte -Werten: komplett
    - Setzen und Darstellen von Byte Trace Message: J1, J2
    - Add/ Drop: DCCs, F1, F2
HP-IB (IEEE 488.2) und RS-232C Interface - VGA Out

Lieferung mit
Option 30: 2Mb/s, 34 Mb/s und 140 Mb/s Prüfung
Einschließlich: Standalone, Map/Demap und Add/Drop

Kleines kosmetisches Problem: eine Abdeckung für das Diskettenlaufwerk fehlt, stört die Funktion in keiner Weise!

Genauere technische Daten finden Sie im Datenblatt - bitte klicken Sie auf den INFO-Button.

Bitte fragen Sie nach den zusätzlichen Kosten für eine rückführbare ISO Kalibrierung.


Ein Datenblatt zu diesem Artikel finden Sie hier.
Eine vergrößerte Abbildung befindet sich hier.

English translation of German description:
The Tektronix CTS 750 SDH/ PHD Test Set provides all the necessary features for testing and repair to ITU-T and ANSI Standards for the network elements (ADM, multiplexers, terminals, etc.) interfaces.

  • Transmit and receive rates
    - Electrical: STM-0E, STM-1E
    - Optical: STM-0, STM-1, STM-4
    - Compliance to ITU-T G.707, G.708, G.709

  • Generation and analysis
    - Testing of bit Error rates incl. B1, B2, B3, TU BIP, MS FEBE, path FEBE and payload
    - Complete alarm monitoring and generation
    - Measurements: 1 sec to 99 days
    - Histograms: 72 h with 1 min resolution - 45 days with 15 min resolution
    - Measurements with ITU-T analysis according to G.826, G.821, M.2100

  • Overhead management
    - Set and view Byte value: All
    - Set and view Byte trace message: J1, J2
    - Add/ drop: DCCs, F1, F2
HP-IB (IEEE 488.2) and RS-232C interface - VGA out

A cover for the floppy disk is missing, this is not a problem in operating the instrument.

Comes with
Option 30: 2Mb/s, 34 Mb/s and 140 Mb/s testing
Includes: Standalone, Map/Demap and Add/Drop

For more technical data please refer to data sheet - click on INFO-Button.

Please ask for the additional fee for a current and traceable ISO calibration.


Please find a corresponding data sheet here.
Please find an enlarged image here.


Tektronix TEK CTS750 Opt. 30

Maße/ Dimensions : 380mm (B/W) x 170mm (H/H) x 480mm (T/D)
Gewicht/ Weight: 9,7 kg



Geprüft / Fully tested:   886,55 INKLUSIV MWST / 745,00 NETTO
Gewährleistung: 1 Jahr
One Year Warranty


Ref. #: 1389692581 Tektronix TEK CTS750 Opt. 30
© by Helmut Singer Elektronik Vertriebs GmbH